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| Surface Analytical Laboratory Dr. Stephen Golledge | ||||||||||||||||
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Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) | |||||||||||||||
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(CF3)+ distribution on patterned SAM surface | |||||||||||||||
| Other graphical examples of data obtained: | ||||||||||||||||
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Mass Spectrum | |||||||||||||||
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Chemical Map II | |||||||||||||||
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Depth Profile | |||||||||||||||